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VLSI测试方法学和可测性设计
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雷绍充等著
ISBN/ISSN：7-121-00379-1
中图分类号：TN47
价格：CNY29.80
出版：北京 电子工业出版社 ,2005
简介：本书系统介绍超大规模集成电路的测试方法学和可测性设计，主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测试设计，扫描和边界扫描理论以及专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。
责任者：雷绍充 著 邵志标 著 梁峰 著 黄涛 主编
载体形态：286页 ;25cm
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