| 字段 | 字段内容 |
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| 009 | $0: 12003941771 |
| 010 | $a: 7-121-00379-1$d: CNY29.80 |
| 035 | $a: (110017)062002015270 |
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| 102 | $a: CN$b: 110000 |
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| 200 | $a: VLSI测试方法学和可测性设计$9: VLSI ce shi fang fa xue he ke ce xing she ji$f: 雷绍充等著 |
| 210 | $a: 北京$c: 电子工业出版社$d: 2005 |
| 215 | $a: 286页$d: 25cm |
| 330 | $a: 本书系统介绍超大规模集成电路的测试方法学和可测性设计，主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测试设计，扫描和边界扫描理论以及专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。 |
| 606 | $a: 超大规模集成电路$x: 测试技术 |
| 610 | $a: VLSI |
| 690 | $a: TN47$v: 4 |
| 701 | $a: 梁峰$9: liang feng$4: 著 |
| 801 | $a: CN$b: 110017$c: 20050120 |
| 905 | $a: LITL$b: 641866-69 $b: 632606-09$d: TN47$r: CNY29.80$e: L083 |
| 999 | $a: 09$b: 4$b: 4$e: 2005171 |
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