| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 01h0018780 |
| 005 | 20121120093232.0 |
| 010 | $a: 978-7-5603-3648-0$d: CNY20.00 |
| 100 | $a: 20120601d2012 km y0chiy50 ea |
| 101 | $a: chi |
| 102 | $a: CN$b: 230000 |
| 105 | $a: a a 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 半导体物理与测试分析$A: ban dao ti wu li yu ce shi fen xi$d: = Semiconductor physics and testing analysis$f: 主编谭昌龙$z: eng |
| 210 | $a: 哈尔滨$c: 哈尔滨工业大学出版社$d: 2012.08 |
| 215 | $a: 152页$c: 图$d: 26cm |
| 225 | $a: 电子与通信工程系列$A: dian zi yu tong xin gong cheng xi lie |
| 300 | $a: “十二五”国家重点图书出版规划项目 |
| 320 | $a: 有书目 (第151-152页) |
| 330 | $a: 本书结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章，主要内容为：半导体的基本性质；半导体中杂质和缺陷能级；平衡态半导体中载流子的统计分布；半导体的导电性；非平衡半导体中载流子的运动规律；pn结。《半导体物理与测试分析》可作为高等学校电子科学与技术、微电子学、以及应用物理等专业学生的教材，也可供从事相关专业的科技人员参考。 |
| 410 | $1: 2001 $a: 电子与通信工程系列 |
| 510 | $a: Semiconductor physics and testing analysis$z: eng |
| 606 | $a: 半导体物理$A: ban dao ti wu li |
| 690 | $a: O47$v: 4 |
| 701 | $a: 谭昌龙$A: tan chang long$4: 主编 |
| 801 | $a: CN$b: LITL$c: 20121120 |
| 905 | $a: LITL$b: 873499-502$d: O47$r: CNY20.00$e: T161 |
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