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半导体物理与测试分析
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= Semiconductor physics and testing analysis /主编谭昌龙
ISBN/ISSN：:978-7-5603-3648-0
丛编：电子与通信工程系列
中图分类号：O47
出版：哈尔滨 :哈尔滨工业大学出版社 ,2012.08
并列题名：Semiconductor physics and testing analysis
简介：本书结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章，主要内容为：半导体的基本性质；半导体中杂质和缺陷能级；平衡态半导体中载流子的统计分布；半导体的导电性；非平衡半导体中载流子的运动规律；pn结。《半导体物理与测试分析》可作为高等学校电子科学与技术、微电子学、以及应用物理等专业学生的教材，也可供从事相关专业的科技人员参考。
责任者：谭昌龙 主编
载体形态：152页 :图 go26cm
附注：“十二五”国家重点图书出版规划项目
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| 负一层 | 873502 | O47/T161 | 873502 | 在架可借 |
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