| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 01h0009920 |
| 005 | 20111223090908.0 |
| 010 | $a: 978-7-5024-5511-8$d: CNY32.00 |
| 100 | $a: 20110427d2011 km y0chiy50 ea |
| 101 | $a: chi |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: a a 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 电阻率测试理论与实践$A: dian zu ce shi li lun yu shi jian$f: 孙以材, 汪鹏, 孟庆浩著 |
| 210 | $a: 北京$c: 冶金工业出版社$d: 2011 |
| 215 | $a: 307页$c: 图$d: 21cm |
| 320 | $a: 有书目 |
| 330 | $a: 本书以电阻率测量中广泛使用的探针技术为对象，以作者多年的相应测试实践对电阻率测试中许多理论问题作了深入探讨，具体包括：四探针法电阻率测量基本原理、静电场数值计算有限元方法等。 |
| 333 | $a: 可供从事传感器与半导体材料相关专业的研究人员和大专院校师生阅读 |
| 606 | $a: 电阻率$A: dian zu $x: 测试 |
| 690 | $a: O441.1$v: 4 |
| 701 | $a: 孟庆浩$A: meng qing hao$4: 著 |
| 801 | $a: CN$b: LITL$c: 20111223 |
| 905 | $a: LITL$b: 844208-11$d: O441.1$r: CNY32.00$e: S970 |
北京创讯未来软件技术有限公司 版权所有 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备 09032139 www.beian.miit.gov.cn
欢迎第46884507位用户访问本系统