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电阻率测试理论与实践
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/孙以材, 汪鹏, 孟庆浩著
ISBN/ISSN：:978-7-5024-5511-8
中图分类号：O441.1
出版：北京 :冶金工业出版社 ,2011
简介：本书以电阻率测量中广泛使用的探针技术为对象，以作者多年的相应测试实践对电阻率测试中许多理论问题作了深入探讨，具体包括：四探针法电阻率测量基本原理、静电场数值计算有限元方法等。
责任者：孙以材 著 汪鹏 著 孟庆浩 著
载体形态：307页 :图 go21cm
附注：可供从事传感器与半导体材料相关专业的研究人员和大专院校师生阅读
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| 馆藏部门 | 物理位置 | 图书条码 | 索书号 | 登录号 | 卷期 | 状态 |
| 二楼南区 | 844208 | O441.1/S970 | 844208 | 在架可借 | ||
| 负一层 | 844209 | O441.1/S970 | 844209 | 在架可借 | ||
| 负一层 | 844210 | O441.1/S970 | 844210 | 在架可借 | ||
| 二楼南区 | 844211 | O441.1/S970 | 844211 | 在架可借 |
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