/主编周玉 go参编漆璿 ... [等]
ISBN/ISSN::978-7-111-34230-4
中图分类号:TB3
出版:北京 :机械工业出版社 ,2011
简介:本书主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。
责任者:周玉 主编 漆璿 参编 范雄 参编 宋晓平 参编
载体形态:344页 :图 go26cm
附注:普通高等教育“十一五”国家级规划教材 普通高等教育“十五”国家级规划教材 面向21世纪课程教材
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二楼北区 | 945224 | TB3/Z818 | 945224 | 在架可借 | ||
负一层 | 945225 | TB3/Z818 | 945225 | 在架可借 | ||
负一层 | 945226 | TB3/Z818 | 945226 | 在架可借 | ||
二楼北区 | 945227 | TB3/Z818 | 945227 | 在架可借 | ||
二楼北区 | 945228 | TB3/Z818 | 945228 | 在架可借 |
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